Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р.З. Валиев, А.Н. Вергазов, В.Ю. Герцман; Ответственный редактор: О.А. Кайбышев; АН СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов.
Record details
- ISBN: 5020001953
- Physical Description: 232 с.
- Publisher: Москва: Наука, 1991.
Content descriptions
Formatted Contents Note: | Межкристальные граница в твердых телах -- Просвечивающий электронный микроскоп как дифракционный прибор -- Использование точенных микродифракционных картин и кикучи-линий для находжения разориентировок кристаллов -- Метод одиночных рефлексов в кристаллогеометрическом анализе границ раздела -- Практика статистических исследований межкристаллитных границ. |
Search for related items by subject
Subject: | Законы геометрической кристаллографии. Электронная микроскопия. |
Available copies
- 1 of 1 copy available at United Catalog.
Holds
- 0 current holds with 1 total copy.
Show Only Available Copies
Location | Call Number / Copy Notes | Barcode | Shelving Location | Status | Due Date |
---|---|---|---|---|---|
Abonement | 2-514388 | 900000995755 | Stacks | Available | - |