Catalog

Record Details

Catalog Search



Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии  Cover Image Book Book

Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р.З. Валиев, А.Н. Вергазов, В.Ю. Герцман; Ответственный редактор: О.А. Кайбышев; АН СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов.

Record details

  • ISBN: 5020001953
  • Physical Description: 232 с.
  • Publisher: Москва: Наука, 1991.

Content descriptions

Formatted Contents Note:
Межкристальные граница в твердых телах -- Просвечивающий электронный микроскоп как дифракционный прибор -- Использование точенных микродифракционных картин и кикучи-линий для находжения разориентировок кристаллов -- Метод одиночных рефлексов в кристаллогеометрическом анализе границ раздела -- Практика статистических исследований межкристаллитных границ.
Subject: Законы геометрической кристаллографии.
Электронная микроскопия.

Available copies

  • 1 of 1 copy available at United Catalog.

Holds

  • 0 current holds with 1 total copy.
Show Only Available Copies
Location Call Number / Copy Notes Barcode Shelving Location Status Due Date
Abonement 2-514388 900000995755 Stacks Available -


Additional Resources